Korkean ja matalan lämpötilan testikammio

Korkean ja matalan lämpötilan testikammio‌ on eräänlainen testauslaite, jota käytetään sähköisten, elektronisten ja muiden tuotteiden ja materiaalien parametrien ja ominaisuuksien testaamiseen ja määrittämiseen ympäristön lämpötilan muutosten jälkeen korkeassa lämpötilassa, matalassa lämpötilassa, vaihtolämpötilassa tai jatkuvassa testissä.
Sitä käytetään laajasti ilmailussa, autoissa, kodinkoneissa, tieteellisessä tutkimuksessa ja muilla aloilla, ja se on välttämätön testaustyökalu näillä aloilla. Korkean ja matalan lämpötilan testikammio voi simuloida tuotteen lämpötila- ja kosteusolosuhteiden yhdistelmää ilmastoympäristössä, kuten korkean ja matalan lämpötilan käyttö, varastointi, lämpötilakierto, korkea lämpötila ja korkea kosteus, matala lämpötila ja alhainen kosteus, kaste testi jne. Käytetään näin puolustusteollisuudessa, ilmailuteollisuudessa, automaatiokomponenteissa, autojen osissa, elektronisissa ja sähkökomponenteissa, instrumenteissa, materiaaleissa, muoveissa, kemian-, elintarvike-, lääketeollisuudessa ja niihin liittyvissä lämpö-, kosteus-, kylmä-, kuivaus- ja laatutuotteissa johtamistekniikan testispesifikaatiot. Näiden testien avulla voidaan arvioida, ovatko itse tuotteen sopeutumiskyky ja ominaisuudet muuttuneet tietyissä ympäristöolosuhteissa.

LED-valaistustekniikkaa on käytetty laajasti valaistusprojekteissa sen energiansäästöominaisuuksien ja pitkän käyttöiän vuoksi. Yhtenäisen toimialan standardin puutteen vuoksi markkinoilla olevien LED-valaistustuotteiden laatu on kuitenkin epätasaista. LED-valaistusteollisuuden nopean kehityksen myötä globaalit ja kotimaiset ovat alkaneet kehittää asiaankuuluvia testaus- ja arviointistandardeja tuotteiden laadun varmistamiseksi ja alan terveen kehityksen edistämiseksi.

Tällä hetkellä LED-valaistustekniikan maailmanlaajuiseen tutkimukseen ja standardointiin kiinnitetään yhä enemmän huomiota. National Institute of Standards and Testing (NIST) edistää aktiivisesti LED-valaistuksen testausmenetelmien tutkimusta tavoitteenaan luoda kattava sarja LED-testausmenetelmiä ja -standardijärjestelmää. Samaan aikaan Japani on myös perustanut erityisen "White LED Test Research Committeen", joka keskittyy korkean ja matalan lämpötilan testausmenetelmien ja teknisten standardien kehittämiseen valaistuksessa käytettäville valkoisille ledeille, kuten korkean ja matalan lämpötilan syklitestilaatikoille. .

Ottaakseen johtavan aseman maailmanlaajuisessa LED-teollisuudessa kehittyneet maat ovat investoineet merkittäviä resursseja LED-standardeihin ja testaukseen. Nämä maat kiinnittävät erityistä huomiota LEDien ominaisparametrien valintaan ja testausmenetelmien tutkimiseen standardeja kehitettäessä. Lisäksi monien suurten kansainvälisten yritysten T&K-tiimit ovat myös osallistuneet aktiivisesti kansallisten ja kansainvälisten standardointijärjestöjen toimintaan edistääkseen yhdessä puolijohdevalaistuksen korkean ja matalan lämpötilan testistandardien, kuten LEDin korkean lämpötilan ja korkean lämpötilan standardien kehittämistä. kosteustestikammiot.

Kansainvälinen valaistuskomissio (CIE) ja kansainvälinen sähkötekninen komissio (IEC) eivät kuitenkaan ole vielä kehittäneet standardeja erityisesti LED-valaistukseen, ja olemassa olevat standardit koskevat pääasiassa tavallisia LED-testausmenetelmiä ja tavanomaisiin valonlähteisiin liittyviä valaistusstandardeja. Tämä osoittaa, että LED-valaistuksen standardointi on edelleen kehittymässä ja vaatii lisää tutkimusta ja kansainvälistä yhteistyötä parantaakseen. Tällä hetkellä tavallisten LEDien testistandardit ovat:

IEC % 7b % 7b0% 7d % 7d erillinen puolijohde laitteet ja integroidut piirit (1992) ;
IEC Discrete Semiconductor Devices and Integrated Circuit Components, 5-2: Optoelektroniset laitteet - Luokitteluominaisuudet ja elementit (1997-09).
IEC Discrete Semiconductor Devices and Integrated Circuits, 5-3: Optoelektroniset laitteet -- Testausmenetelmät (1997-08);
IEC Discrete Semiconductor Devices, 12-3: Optoelektroniset laitteet - Tyhjiä yksityiskohtia koskeva standardi valodiodeille näyttötarkoituksiin (1998-02)
CIE{0}}LED-testimenetelmä (1997);
CIE/ISOLED lujuustestausstandardit.

Kansainvälisen valaistuskomission (CIE) vuonna 1997 julkaisemassa CIE 127-1997 -standardissa ehdotettiin LED-lujuustestauksen keskimääräisen lujuuden käsitettä ja määriteltiin yhtenäinen testirakenne ja ilmaisimen koko, mikä antoi tärkeän perustan. LED-suorituskyvyn tarkkaan testaukseen ja vertailuun. Vaikka CIE 127-1997 ei ole virallinen kansainvälinen standardi, sen helppokäyttöisyys ja kyky varmistaa testien tarkkuus ovat johtaneet siihen, että monet suuret yritykset ympäri maailmaa ovat ottaneet sen käyttöön. LED-tekniikan nopean kehityksen myötä CIE 127-1997 -standardi ei kuitenkaan kattanut joitain uusia LED-tekniikan ominaisuuksia, kuten testausta korkeissa lämpötiloissa ja korkeassa kosteudessa.

Myös Japani on osoittanut myönteistä työtä LED-standardien kehittämisessä. Esimerkiksi Japanin Nichia-yhtiö ja Yhdysvaltojen Lumileds-yhtiö LED-teknologian ristiinlisensoinnissa ja aikovat yhdessä kehittää teho-LED-standardeja edistääkseen markkinoiden käyttöä ja edistääkseen LED-teollisuuden vakaata kehitystä.

Lisäksi Yhdysvaltojen tuoteturvallisuussertifiointi- ja standardointielin UL (Underwriters Laboratories Inc.) kehittää aktiivisesti sarjaa LED-tuoteturvallisuuden arviointistandardeja. Eli Puszkar, UL:n valaistussuunnittelun liiketoimintaosasto, sanoi, että varmistaakseen, että uudet LED-valaistustuotteet voidaan hyväksyä ja luottaa yleisön perinteisiin valaistuslaitteina, UL on alkanut kehittää turvallisuuden arviointistandardeja LED-tuotteille. Uusien tuotteiden kehittämisessä ja suunnittelussa valmistajien on otettava huomioon turvallisuusnäkökohdat, kuten sähköiskujen, tulipalojen ja fysiologisten vaarojen estäminen.

BOTOn korkean ja matalan lämpötilan testikammiolla on korvaamaton rooli LED-lamppujen korkean ja matalan lämpötilan testissä, jolla voidaan havaita tuotteiden luotettavuus ja parantaa tuotteiden kilpailukykyä.

BOTO on erikoistunut korkean ja matalan lämpötilan testikammioihin yli 20 vuoden ajan, jos sinulla on kysyttävääota meihin yhteyttä.

Suositut Tagit: korkean ja matalan lämpötilan testikammio, Kiina, toimittajat, valmistajat, tehdas, osta, halpa